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    發明專利實體審查基準(一)-國際法規與案例彙編(47) 2...
    編/著者： 張仁平
    出版日期：2010-02-27
    ISBN：9789860213881
    參考分類(CAT)：經濟金融
    參考分類(CIP)： 

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    　　本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例，其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容，列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPs）與專利合作條約（PCT）等，以供比較參考，並於各章節編列相關案例，詳加解說，有助於瞭解專利審查基準之相關規範。