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    專利監控全方位服務 如何透過專利探勘分析掌握重要競爭情報S...
    編/著者： 陳賜賢
    出版社：MIC資訊市場
    出版日期：2014-11-18
    ISBN：30016599
    參考分類(CAT)：探索科技
    參考分類(CIP)： 

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