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    專利審查基準及實務(上)程序發明(I)篇[2版/2014年...
    編/著者： 張仁平
    出版社：元照
    出版日期：2013-12-30
    ISBN：9789862553817
    參考分類(CAT)：
    參考分類(CIP)： 工程學總論

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    　　本書分為上下兩冊，包括程序、發明、設計、新型及舉發等五篇，其中彙整案例超過250則，考題超過1000題。上冊為「程序審查及專利權管理篇」及「發明專利實體審查篇」最重要之第一至第三章等，內容充實深入，完整詮釋專利審查基準及實務。


    　　本書適用對象廣泛，舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試)等，皆可各取所需。