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    發明專利實體審查基準(培訓學院教材08)
    編/著者： 張仁平
    出版日期：2014-01-30
    ISBN：9789860404630
    參考分類(CAT)：法律司法
    參考分類(CIP)： 工程學總論

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    本教材乃依序說明專利審查基準總則部分之國際相關法規、審查基準及案例，其內容主要係依據經濟部智慧財產局二○一三年一月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第十一章之內容，於各章中首先列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPS）與專利合作條約（PCT）等，以供比較參考，其次說明審查基準之重點，最後輔以案例說明，有助於瞭解專利審查基準之相關規範。(相關法令已更新，本書非最新內容)