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    國際專利分析與布局
    編/著者： 劉國讚
    出版社：元照
    出版日期：2018-01-01
    ISBN：9789578607040
    參考分類(CAT)：
    參考分類(CIP)： 工程學總論

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    這是一本介紹國際專利申請與布局、國際專利資料檢索與分析的書籍。本書從我國、美國、日本、歐洲、中國、PCT等專利系統的申請與審查程序、專利公報之形成與解讀，到各國專利資料之檢索方法、分析技巧，以超過20個實務專利分析與布局個案，呈現專利管理圖表之製作，為企業管理者做成經營決策、研發人員研擬研發計畫之重要工具。