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    國際專利分析與布局（二版）
    編/著者： 劉國讚
    出版社：元照
    出版日期：2021-06-01
    ISBN：9789575115050
    參考分類(CAT)：
    參考分類(CIP)： 工程學總論

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    這是一本介紹國際專利申請與布局、國際專利資料檢索與分析的書籍。本書從我國、美國、日本、歐洲、中國、PCT等專利系統的申請與審查程序、專利公報之形成與解讀，到各國專利資料之檢索方法、分析技巧，以超過20個實務專利分析與布局個案，呈現專利管理圖表之製作，為企業管理者做成經營決策、研發人員研擬研發計畫之重要工具。
    作者介紹
    劉國讚
    現　職
    國立臺灣科技大學專利研究所教授兼所長

    學　歷
    國立臺灣科技大學工學博士
    國立政治大學法律學碩士

    經　歷
    　　1992年進入經濟部中央標準局（智慧財產局之前身）專利處服務，從事專利審查工作，歷任技正、專利審查官兼科長、專利高級審查官、副組長、組長。
    　　曾在美國、日本、德國參加專利實務進修課程並做相關研究，並曾擔任法官學院、學研機構、民間企業有關專利實務相關課程之講師。

    著　作
    專利實務論
    專利權範圍之解釋與侵害
    專利法之理論與實用

    研　究
    專利法制
    專利權範圍解析
    專利侵害訴訟實務
    專利無效與訴訟實務
    專利技術分析與布局