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    積體電路測試實務
    編/著者： 廖裕評 陸瑞強
    出版社：全華
    出版日期：2007-05-01
    ISBN：9789572157749
    參考分類(CAT)：
    參考分類(CIP)： 電機工程

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    　積體電路設計是近年來熱門話題，半導體產品廣範的被人使用，本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。本書第一章為了積體電路測試的簡介，介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹，介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試，介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析，含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學，介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。本書適合私立大學科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。本書特色★1 . 介紹積體電路基本測試方法。★2 . 設計實驗流程，幫助初學者快速了解實驗。★3 . 介紹測試資料分析方法。★4 . 配合教育部重點發展計畫內容。
    目次
    第1章　積體電路測試簡介第2章　IC特性與規格介紹第3章　DC參數測試第4章　功能測試第5章　資料分析第6章　測試經濟學附 錄　詞彙解釋