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    基礎干涉光學及實驗
    編/著者: 張瑞賢
    出版社:全華
    出版日期:2026-10-13
    ISBN:9786264019163
    參考分類(CAT):
    參考分類(CIP): 光;光學

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      | 內容簡介 |
    內容簡介
    本書以雷射干涉量測為核心,系統介紹干涉光學理論與精密量測技術,涵蓋玻璃厚度、折射率、角度、位移、形貌及光譜等十項實驗。內容結合理論解析、實驗操作與結果討論,並整合 Arduino、MATLAB、Python 等工具,實現干涉信號擷取、數值分析與量測自動化,呈現光、機、電與程式設計的跨領域整合,協助讀者深入理解干涉原理,掌握精密光學量測與信號處理的實務技術。
    目次
    實驗一 玻璃厚度之干涉量測
    實驗二 玻璃折射率之干涉量測
    實驗三 角度之干涉量測
    實驗四 液體折射率之干涉量測
    實驗五 位移之正交干涉量測
    實驗六 形貌之相移干涉量測
    實驗七 傅立葉轉換之光譜干涉量測
    實驗八 桑納克干涉儀之白光光譜量測
    實驗九 相位調變干涉術用於玻璃厚度量測
    實驗十 外差干涉術用於波片相位延遲量測